VI Systems startet Testservice für optische Siliziumwafer auf der Photonics West 2016

Die neue halbautomatische Wafer Teststation von VI Systems ermöglicht elektrische und optische Hochgeschwindigkeitstests von Wafern, die sich in frühen Stadien des Herstellungsprozesses befinden. Das System reduziert Herstellungskosten, indem es Wafer aussortiert, die nicht die gewünschten Anforderungen erfüllen, bevor diese weiterverarbeitet werden, was den Ertrag verbessert. Der neue Service umfasst auch eine Hochgeschwindigkeitscharakterisierung auf Waferebene. Die SPIE Photonics West Konferenz wird vom 16. bis 18.2. 2016 in San Francisco, Kalifornien, stattfinden.

Berlin, 8. Dezember 2015

VI Systems GmbH, ein führendes Unternehmen im Bereich von optischen Hochgeschwindigkeitshalbleiterkomponenten, erweitert sein Dienstleistungsportfolio für Optische Halbleiter-Wafer von bis zu 6 Zoll.

Die neue halbautomatische Wafer-Teststation ermöglicht in Hochgeschwindigkeit eine elektrische und optische Prüfung von Wafern früh im Fertigungsprozess. Die Testparameter umfassen optische Ausgangsleistung und das optische Spektrums. Die Elektrischen Parameter, die getestet werden können, schließen Betriebsspannung, Vorspannung, Antriebsstrom und Dunkelstrom ein. Hochfrequenzcharakterisierungstest können bis zu 38 GHz durchgeführt werden, einschließlich digitaler Übertragungsversuche von bis zu 64 Gbit / s. Die neuen Anlagen umfassen auch Nah- und Fernfeldanalysewerkzeuge sowie mikroskopische Ausrüstung zur Charakterisierung.